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BS EN 2591-220-2005 航空航天系列.电和光学连接元件.试验方法.电流和温度周期性变化引起的触点/导体接头老化

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 17:53:17  浏览:8349   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Elementsofelectricalandopticalconnection—Testmethods—Part220:Contact/conductorjointageingbycurrentandtemperaturecycling
【原文标准名称】:航空航天系列.电和光学连接元件.试验方法.电流和温度周期性变化引起的触点/导体接头老化
【标准号】:BSEN2591-220-2005
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2006-02-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:航空航天运输;老化;老化稳定性;航空运输;飞行器部件;触点;触点针;载流量;电流负载;周期的;导电体;电连接器;电触点;电流;电插头;电气元件;电力设备;设备;紧固件;长期性状;测量;光学元件;光波导;针触点;航天运输;温度试验;试验;热应力;热试验
【英文主题词】:
【摘要】:ThisstandardspecifiesamethodtodemonstratethelongtermelectricalstabilityoftheconductortocontactjointintheEN3155seriesofproductstandards.Thethermalcyclingtestiscarriedoutusingacombinationofconductorcurrentand“ambient”heattoachievetheappropriatemaximumratedoperatingtemperature.ItshallbeusedtogetherwithEN2591-100.
【中国标准分类号】:V25
【国际标准分类号】:49_060
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:TestMethodforSaturationMagnetizationofMagneticMaterials
【原文标准名称】:磁性材料的导磁性能的试验方法
【标准号】:ASTMA894/A894M-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;磁性材料
【英文主题词】:testing;magneticmaterials
【摘要】:
【中国标准分类号】:H72
【国际标准分类号】:29_040_10
【页数】:
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices-Part6-12:Generalrulesforthepreparationofoutlinedrawingsofsurfacemountedsemiconductordevicepackages-Designguidelinesforfine-pitchlandgridarray(FLGA)(IEC60191-6-12:2011);German
【原文标准名称】:半导体器件的机械标准化.第6-12部分:表面安装半导体设备包的外形图制备用一般规则.细间距栅极阵列的设计指南(FLGA)(IEC60191-6-12-2011).德国
【标准号】:DINEN60191-6-12-2011
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2011-12
【实施或试行日期】:2011-12-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Casedrawing;Components;Connectingdimensions;Connections;Definitions;Design;Dimensions;Drawings;Electricenclosures;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Engineeringdrawings;Erecting(constructionoperation);Gridsystems;Guidebooks;Guidelines;Illustrations;Integratedcircuits;LandGridArray;Marking;Matrices;Mechanic;Packages;Rectangularshape;Semiconductordevices;Semiconductorpackage;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Symbols;Types
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:01_100_25;31_240
【页数】:20P;A4
【正文语种】:德语