YS/T 323-1994 铍青铜条材和带材
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 02:47:47 浏览:9438
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 铍青铜条材和带材 |
| 中标分类： |
冶金 >>
有色金属及其合金产品 >>
重金属及其合金 |
| 替代情况： | YB/T 552-1975;被YS/T 323-2002代替 |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1976-07-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 4页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 冶金 有色金属及其合金产品 重金属及其合金
【英文标准名称】:Methodsoftestingplastics.Chemicalproperties.Determinationofmoisturecontentofcelluloseacetate
【原文标准名称】:塑料的试验方法.第4部分:化学性能.方法431C:醋酸纤维素中水分含量的测定
【标准号】:BS2782Pt.4Method431C-1991
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【英文标准名称】:StandardGuideforMeasuringWidthsofInterfacesinSputterDepthProfilingUsingSIMS
【原文标准名称】:用次级离子质谱法(SIMS)测量深度掺杂分布界面宽度标准指南
【标准号】:ASTME1438-2006
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E42.06
【标准类型】:(Guide)
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体工艺;光谱测定法
【英文主题词】:
【摘要】:Althoughitwouldbedesirabletomeasuretheextentofprofiledistortioninanyunknownsamplebyusingastandardsampleandthisguide,measurementsofinterfacewidth(profiledistortion)canbeuniquetoeverysamplecomposition(1,2,3).3Thisguide,thatdescribesamethodthatdeterminestheuniquewidthofaparticularinterfaceforthechosensetofoperatingconditions.Itisprimarilyintendedtoprovideamethodforcheckingonproperorconsistent,orboth,instrumentperformance.Periodicanalysisofthesamesamplefollowedbyameasurementoftheinterfacewidth,inaccordancewiththisguide,willprovidethesechecks.Theproceduredescribedinthisguideisadaptabletoanylayeredsamplewithaninterfacebetweenlayersinwhichanominatedelementispresentinonelayerandabsentfromtheother.IthasbeenshownthatforSIMSinparticular(4,5)andforsurfaceanalysisingeneral(6,7),onlyrigorouscalibrationmethodscandetermineaccurateinterfacewidths.Suchproceduresareprohibitivelytime-consuming.Thereforetheinterfacewidthmeasurementobtainedusingtheproceduredescribedinthisguidemaycontainsignificantsystematicerror(8).Therefore,thismeasureofinterfacewidthmayhavenorelationtosimilarmeasuresmadewithothermethods.However,thisdoesnotdiminishitsuseasacheckonproperorconsistentinstrumentperformance,orboth.1.1ThisguideprovidestheSIMSanalystwithamethodfordeterminingthewidthofinterfacesfromSIMSsputteringdataobtainedfromanalysesoflayeredspecimens.Thisguidedoesnotapplytodataobtainedfromanalysesofspecimenswiththinmarkersorspecimenswithoutinterfacessuchasion-implantedspecimens.1.2Thisguidedoesnotdescribemethodsfortheoptimizationofinterfacewidthortheoptimizationofdepthresolution.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:A43;H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:
